顯微式激光測(cè)振儀MSA-650-IRIS
所屬分類:
紅外穿透式,同時(shí)滿足面外振動(dòng)(OOP)和面內(nèi)振動(dòng)(IP)測(cè)試
mems帽進(jìn)行原理測(cè)量

顯示帶帽mems的動(dòng)態(tài)特性

捕獲的操作缺陷形狀

2軸加速度計(jì)(fhgenas)的平面運(yùn)動(dòng)分析

不同表面反射的相對(duì)強(qiáng)度貢獻(xiàn)(左)和不同光學(xué)結(jié)構(gòu)的離焦光強(qiáng)度與反射源距離的關(guān)系(右)

用于芯片級(jí)測(cè)量的探針臺(tái)集成

MEMS器件的動(dòng)態(tài)特性測(cè)試和機(jī)械響應(yīng)可視化對(duì)于產(chǎn)品開發(fā)、故障排除和有限元模型驗(yàn)證來(lái)說(shuō)非常重要。Polytec公司的MSA顯微式激光測(cè)振儀能快速、準(zhǔn)確地測(cè)試顯微結(jié)構(gòu)的面外振動(dòng)(OOP)和面內(nèi)振動(dòng)(IP)。全新的MSA-650 IRIS顯微式激光測(cè)振儀甚至可以透過(guò)完整的微型硅密封器件進(jìn)行測(cè)試,如慣性傳感器,MEMS麥克風(fēng),壓力傳感器等。
典型應(yīng)用
· 慣性傳感器,如加速度計(jì)和陀螺儀
· 微機(jī)電傳感器和致動(dòng)器 (MEMS)
· 打印機(jī)噴墨頭 · 壓力傳感器薄膜
· 耳機(jī)、微型鏡頭等
亮點(diǎn)
· 通過(guò)硅封裝器件的不同層測(cè)試MEMS動(dòng)態(tài)特性
· 實(shí)時(shí)面外振動(dòng)測(cè)試,最大帶寬高達(dá)25 MHz
· 亞皮米級(jí)面外振動(dòng)位移分辨率
· 易于集成至生產(chǎn)線上的自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)(兼容商用探針臺(tái))
· 頻閃法測(cè)試面內(nèi)振動(dòng),帶寬高達(dá)2.5 MHz
· 更好地分離器件的各個(gè)層
· MEMS器件的最終有限元模型驗(yàn)證
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